نهتم بالكيمياء و الكيميائيين
نهتم بالكيمياء و الكيميائيين
نهتم بالكيمياء و الكيميائيين

Scanning Probe Microscopy and Nano-Indentation for Semiconductor Failure Analysis and Reliability

الأربعاء19أبريل6:00 pmالأربعاء7:00 pmScanning Probe Microscopy and Nano-Indentation for Semiconductor Failure Analysis and Reliabilityالتصنيف:مجاناً,ندوة عن بعد المنظم:Bruker6:00 pm - 7:00 pm(GMT+03:00) اعرض بتوقيتك

الوقت

(الأربعاء) 6:00 pm - 7:00 pm(GMT+03:00) اعرض بتوقيتك

ملاحظة: رابط التسجيل تابع للجهة المنظمة، لايتحمل الموقع أي سوء استخدام لبيانات تسجيلك.

اذهب إلى الأعلى